普通精度圓柱齒輪漸開線誤差檢測裝置設(shè)計【含3張CAD圖紙+文檔全套】

喜歡就充值下載吧。。資源目錄里展示的文件全都有，，請放心下載，，有疑問咨詢QQ:414951605或者1304139763 ======================== 喜歡就充值下載吧。。資源目錄里展示的文件全都有，，請放心下載，，有疑問咨詢QQ:414951605或者1304139763 ======================== 本科畢業(yè)設(shè)計開題報告 題 目：普通精度圓柱齒輪漸開線誤差檢測裝置設(shè)計 院 （系）： 機械工程學(xué)院 班 級： 機制08-4班 姓 名： 劉濤 學(xué) 號： 2008026001 指導(dǎo)教師： 于鳳云 教師職稱： 教 授 黑龍江科技學(xué)院本科畢業(yè)設(shè)計開題報告 題 目 普通精度圓柱齒輪漸開線誤差檢測裝置設(shè)計 來源 工程實際 1、研究目的和意義 齒輪檢測技術(shù)在齒輪制造中占有很重要的地位，沒有先進的檢測技術(shù)和儀器，不可能制造出性能優(yōu)良、高質(zhì)量、高精度的齒輪。隨著齒輪在工業(yè)工程等方面的廣泛應(yīng)用，對齒輪的精度要求越來越高。針對齒輪的齒形誤差的測量測試，進行精確的測量。 2、國內(nèi)外發(fā)展情況(文獻綜述) 1923年，德國Zeiss公司在世界首次研制成功一種稱為“Tooth Surface Tester”的儀器，它實際上是機械展成式萬能漸開線檢查儀[1]。在此基礎(chǔ)上經(jīng)過改進，Zeiss公司于1925年推出了實用性儀器，并投入市場。50年代初，機械展成式萬能螺旋線檢測儀的出現(xiàn)[2]，標(biāo)志著全面控制齒輪質(zhì)量成為現(xiàn)實。 1965年英國研制出光柵式單嚙儀[3]。1970年，以黃潼年為主的中國工程師研發(fā)的齒輪整體誤差測量技術(shù)，標(biāo)志著運動幾何法測量齒輪開始[4]。1970年，美國Fellows公司在芝加哥博覽會展出Microlog 50，標(biāo)志著數(shù)控齒輪測量中心的開始[5]。80年代末，日本大阪精機推出基于光學(xué)全息原理的非接觸齒面分析機FS—35，標(biāo)志著齒輪非接觸測量法的開始[6]。 齒輪測量技術(shù)的演變，整體上考察過去一個世紀里齒輪測量技術(shù)的發(fā)展，主要表現(xiàn)在三個方面[7]： 1）在測量原理方面，實現(xiàn)了由“比較測量”到“嚙合運動測量”，直至“模型化測量”的發(fā)展。 2）在實現(xiàn)測量原理的技術(shù)手段上，歷經(jīng)了“以機械為主”到“機電結(jié)合”，直至當(dāng)今的“光—機—電”與“信息技術(shù)”綜合集成的演變。 3）在測量結(jié)果的表述與利用方面，經(jīng)歷了從“指示表加肉眼讀取”，到“記錄器記錄加人工研判”，直至“計算機自動分析并將測量結(jié)果反饋到制造系統(tǒng)”的飛躍。 機械展成式測量技術(shù)，20世紀70年代以前，齒輪測量原理主要以比較測量為主，其實質(zhì)是相對測量。具體方式有兩種：一是將被測齒輪與一標(biāo)準(zhǔn)齒輪進行實物比較，從而得到各項誤差；二是展成測量法，就是將儀器的運動機構(gòu)形成的標(biāo)準(zhǔn)特征線與被測齒輪的實際特征線作比較，來確定相應(yīng)誤差；而精確的展成運動是借助一些精密機構(gòu)來實現(xiàn)的[8]。齒輪整體誤差測量技術(shù) ，1970年是齒輪測量技術(shù)的轉(zhuǎn)折點。齒輪整體誤差測量技術(shù)和齒輪測量機（中心）的出現(xiàn)解決了齒輪測量領(lǐng)域的一個難題，即在一臺儀器上快速獲取齒輪的全部誤差信息[9]。1970年，我國在齒輪測量技術(shù)方面取得突破，發(fā)明了基于“跳牙”蝸桿的齒輪整體誤差測量原理。經(jīng)過30多年的完善與推廣[10]，這種起源于漸開線圓柱齒輪測量的方法已成為傳動元件的運動幾何測量法[11]。采用的標(biāo)準(zhǔn)元件也從蝸桿擴展到齒輪、齒條等。通過對傳統(tǒng)齒形誤差測量方法誤差來源多、測頭安裝調(diào)整誤差大等缺點進行分析 ,提出一種在 19JC萬能工具顯微鏡上利用成像法實現(xiàn)漸開線圓柱直齒輪齒形誤差測量的新方法[12]。積極采用齒輪國際標(biāo)準(zhǔn) ,采用先進的加工工藝 ,如精滾工藝、修磨齒形及改變刀具材料實現(xiàn)硬齒面剃齒等 ,使齒輪制造質(zhì)量批量、穩(wěn)定地達到標(biāo)準(zhǔn)要求 ,是我國重要的技術(shù)經(jīng)濟政策[13]。齒輪的制造質(zhì)量對提高機械傳動系統(tǒng)的精度、壽命和降低噪聲十分重要。這里提出了采用虛擬儀器技術(shù)、計算機技術(shù)等與傳統(tǒng)齒輪檢測儀相結(jié)合而構(gòu)建的一種先進的齒輪誤差檢測系統(tǒng),集先進的軟硬件技術(shù)、現(xiàn)代信號處理技術(shù)于一體,實現(xiàn)了誤差檢測的自動化、可視化、智能化,提高了檢測的精度和可靠性[14] 。隨著我國汽車摩托車制造業(yè)的迅速發(fā)展 ,汽摩齒輪制造業(yè)也得到了空前快速的發(fā)展 。盡快成為汽摩齒輪的全球制造與供應(yīng)基地 , 是我國齒輪制造業(yè)的總體發(fā)展戰(zhàn)略 , 并已經(jīng)成為我國眾多齒輪制造商的共識[15]。 3、研究/設(shè)計的目標(biāo)： 通過改進普通精度圓柱漸開線誤差檢測裝置，使裝置在檢測齒輪誤差的時候能夠更加的精確，更加的方便。 4、設(shè)計方案（研究/設(shè)計方法、理論分析、計算、實驗方法和步驟等）： （1）收集資料，分析研究資料，明確設(shè)計內(nèi)容； （2）根據(jù)設(shè)計技術(shù)要求，完成總體結(jié)構(gòu)方案的擬訂； （3）運動和動力參數(shù)的計算； （4）通過強度等設(shè)計計算，完成監(jiān)測裝置結(jié)構(gòu)的設(shè)計； （5）利用CAD繪制總體裝配圖及零件工作圖； （6）整理設(shè)計說明書。 漸開線極坐標(biāo)方程 k= θk=tank-k 漸開線參數(shù)方程 x=rb×cosθ＋rb×radθ×sinθ y=rb×sinθ－rb×radθ×cosθ 漸開線及其形成直線BK在一圓上作純滾動，其上K點的軌跡就是漸開線。其中，AK漸開線圓---基圓。rb---基圓半徑BK---漸開線發(fā)生線θk---漸開線上K點的展角 rK---漸開線上K點的向徑αK---漸開線K點的壓力角 圖1漸開線發(fā)生線 漸開線的性質(zhì) 1)發(fā)生線沿基圓滾過的長度等于基圓上被滾過的弧長,即:； 圖2漸開線發(fā)生線 2)當(dāng)發(fā)生線沿基圓作純滾動時，切點B為其速度瞬心， 因此KB必垂直于漸開線上K點的切線，即發(fā)生線為漸開線在K點的法線。 漸開線上任一點的法線恒與基圓相切； 3)發(fā)生線與基圓的切點B也是漸開線在K點處的曲率中即 ρk==rKsinαk。 ?? K點離基圓愈遠(rK愈大),ρk愈大,K點在基圓上時(rK=0時)， 4)漸開線的形狀取決于基圓的大小，即由不同大小的基圓所形成的漸開線,在相等展角θk，處的曲率半徑ρk的大小隨基圓半徑γb的增大而增大，若γb→∞，則ρk→∞，漸開線AK變成直線，故齒條的漸開線齒廓曲線為直線。 5)基圓以內(nèi)無漸開線 漸開線方程式多用極坐標(biāo)形式表示： 設(shè)OA為極坐標(biāo)軸(O為原點)，則以壓力角αk表示的K點的極坐標(biāo)θk，γk(展角,向徑)方程式為： 由圖2漸開線發(fā)生線圖2可知： tanαk= 所以，漸開線的極坐標(biāo)方程為： γk= ? 其中很常用,可用來求解漸開線齒廓上任一點的壓力角。 圖3 漸開線發(fā)生線 漸開線函數(shù) 漸開線函數(shù)指的是展角θk，與壓力角k的函數(shù)關(guān)系式，工程上以invk表示該函，即 ??invαk=θk=tank-k 5、方案的可行性分析： 設(shè)計思想新穎、設(shè)計檢查裝置原理符合國家標(biāo)準(zhǔn)、結(jié)構(gòu)容易加工，能夠保證檢測精度。此方案可行。 6、該設(shè)計的創(chuàng)新之處 方便使用，精確度高，有較大的靈活性。 7、設(shè)計產(chǎn)品的主要用途和應(yīng)用領(lǐng)域： 目前社會正在向著機械化發(fā)展，而齒輪傳動也是必不可少的關(guān)鍵環(huán)節(jié)所以齒輪的標(biāo)準(zhǔn)化是減少誤差的重要必備條件，所以齒輪的檢測也是至關(guān)重要的，齒輪漸開線誤差檢測裝置對于齒輪的檢測也是必不可少的環(huán)節(jié)，對于齒輪的標(biāo)準(zhǔn)化起著一定的作用，減少齒輪傳動上的誤差對于一些高精密的機床設(shè)備是非常有好處的，齒輪誤差檢測裝置對齒輪的傳動精度上的影響是很大的，一些高精密機床的精度非常高那是因為高規(guī)格的齒輪傳動平穩(wěn)、精度高，所以對于齒輪的檢測是非常重要的。 8、時間進程 2012年3 月12日~2012年3 月30 日 哈爾濱工具廠畢業(yè)實習(xí)，收集漸開線的齒輪相關(guān)資料 2012年4月1日~2012年4月6日 整理實習(xí)日記、撰寫實習(xí)總結(jié)和開題報告 2012年4月7日~2012年5月4日 設(shè)計計算、總體結(jié)構(gòu)草圖設(shè)計 2012年5月5日~2012年5月25日 總體圖和部件圖設(shè)計 2012年5月26日~2012年5月3日 零件圖設(shè)計 2012 年 6月4日~2012年6月8日 編寫畢業(yè)設(shè)計說明書、審圖、修改 2012 年 6月11日~2012年6月15日 答辯 9、參考文獻： 1 Steinle A. 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